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非接觸式金屬膜厚測量儀是一種常見的表面分析儀器，其原理基于光學(xué)干涉或者電磁感應(yīng)等技術(shù)。相比于傳統(tǒng)的劃痕法和化學(xué)分析法，非接觸式金屬膜厚測量儀具有高精度、快速和不破壞測試樣品等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工程、光學(xué)制造等領(lǐng)域。原理是利用光學(xué)干涉原理或電磁感應(yīng)原理來測定薄膜的厚度。其中，光學(xué)干涉法是通過反射光線之間的干涉來測量薄膜的厚度，而電磁感應(yīng)法則是依靠磁場的變化來檢測薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測量薄膜對光線或磁場的影響上，通過實(shí)時(shí)監(jiān)測信號變化來計(jì)算出薄膜的厚度。...
查看全文Upto98%光利用率——鍍介質(zhì)鏡型純相位高速高損傷閾值SLM！液晶空間光調(diào)制器（SLM）可以將數(shù)字化數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為適合各種應(yīng)用的相干光學(xué)信息，包括雙光子/三光子顯微成像、光鑷、自適應(yīng)光學(xué)、湍流模擬、光計(jì)算、光遺傳學(xué)和散射介質(zhì)成像等應(yīng)用。這些應(yīng)用需要能夠輕松快速地改變相干光束波前的調(diào)制器。通過將液晶材料的電光性能特征與基于硅的數(shù)字電路相結(jié)合，MeadowlarkOptics現(xiàn)在提供了高分辨率的SLM，這些SLM還具有物理緊湊性和高光學(xué)xiao率。圖一：緊湊的HSP1K（1024×...
查看全文膜厚測量儀主要采用了X射線熒光光譜技術(shù)（XRF技術(shù)），通過發(fā)射出的X射線來對材料內(nèi)部的分子結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，從而得到材料的厚度和組成。X射線通過材料后，與材料中的元素反應(yīng)并產(chǎn)生熒光信號，該熒光信號的波長和強(qiáng)度反映了樣品中的元素種類和含量。通過這種方式來測量薄膜的厚度以及成分。應(yīng)用場景：1、半導(dǎo)體加工在半導(dǎo)體制造業(yè)中，不同工藝步驟所涉及的膜厚以及成分都不同，需要采用高靈敏度的儀器來進(jìn)行檢測。膜厚測量儀能夠精確測量超薄膜，對后續(xù)工序制定提供參考。2、金屬材料檢測在金屬材料制造業(yè)中，需...
查看全文膜厚測量儀是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和工業(yè)生產(chǎn)中的精密測量設(shè)備。膜厚測量儀的主要作用是通過利用特定實(shí)驗(yàn)方法和設(shè)備對薄膜進(jìn)行精確測量。膜厚測量儀可以廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域，如電子、照明、建筑、半導(dǎo)體、光學(xué)、制藥、航空等。1.電子行業(yè)在電子行業(yè)中，膜厚測量儀被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、面板顯示器、光學(xué)存儲器、光電元件等制造產(chǎn)業(yè)中。通過利用膜厚測量儀可以幫助生產(chǎn)商更好地掌握產(chǎn)品的質(zhì)量和性能特征，提高產(chǎn)業(yè)的競爭力。2.照明行業(yè)在照明行業(yè)中，膜厚測量儀的主要應(yīng)用是幫助測量光伏電池的光電轉(zhuǎn)化率，以及測...
查看全文無人機(jī)載高光譜遙感使作物表型檢測更加高效糧食短缺、人口增長和全球氣候變化推動(dòng)了提高作物產(chǎn)量的研究。田間作物表型能為作物生長及其與環(huán)境的關(guān)系提供了重要信息。然而，傳統(tǒng)的車載平臺用于田間試驗(yàn)采樣和作物性狀參數(shù)的確定費(fèi)時(shí)費(fèi)力，且空間覆蓋范圍有限。這限制了作物科學(xué)研究的快速發(fā)展。以無人機(jī)(UAV)為代表的高通量近地遙感表型平臺靈活、成本低、空間覆蓋廣，已成為獲取田間表型信息的有效途徑。（利用光譜數(shù)據(jù)評估植物表型特征）將specimAFX10高光譜成像相機(jī)集成到無人機(jī)上，用于評估中國北...
查看全文光放大技術(shù)是指不需要進(jìn)行光—電—光的轉(zhuǎn)換，直接對光信號進(jìn)行實(shí)時(shí)、在線、透明放大的技術(shù)。其核心器件為光放大器，它是一種全光放大器，主要由增益介質(zhì)、輸入輸出結(jié)構(gòu)等構(gòu)成，其作用是增強(qiáng)光信號的功率，放大輸入的弱光信號。在光纖通信技術(shù)中，由傳統(tǒng)的光電混合中繼放大器到純光放大器是一個(gè)重大的飛躍。這意味著光電中繼器中由于電子響應(yīng)速度和寬帶限制所帶來的“電子瓶頸”的影響將不復(fù)存在，利用原有的系統(tǒng)進(jìn)行高速率信號傳輸將成為現(xiàn)實(shí)。同時(shí)，它也使得光通信系統(tǒng)中波分復(fù)用技術(shù)和密集波分復(fù)用技術(shù)的實(shí)現(xiàn)成為可...
查看全文利用高光譜成像評估水果和蔬菜的成熟度和老化監(jiān)測和控制食品質(zhì)量對于追求利潤和負(fù)責(zé)任的食品生產(chǎn)至關(guān)重要。特別是對于水果和蔬菜來說，它們比其他食品更加敏感，必須新鮮出售和加工才能更加有價(jià)值和更加健康。高光譜成像為自動(dòng)質(zhì)量控制系統(tǒng)提供了重要的數(shù)據(jù)，以確保食品的高質(zhì)量。用specimFX10高光譜相機(jī)測量李子和番茄的老化食品的生長天數(shù)是評價(jià)食品新鮮程度時(shí)需要量化的一個(gè)重要參數(shù)。在這樣的背景下，水果和蔬菜的成熟度和硬度是需要觀察和監(jiān)測的兩個(gè)最基本的參數(shù)。高光譜相機(jī)可以觀察水果和蔬菜在整個(gè)...
查看全文概述：膜厚測量儀是一種用于測量材料薄膜厚度的儀器。本文將詳細(xì)介紹膜厚測量儀的應(yīng)用領(lǐng)域、優(yōu)勢及其在相應(yīng)領(lǐng)域中的具體應(yīng)用。應(yīng)用領(lǐng)域：1.微電子器件制造在微電子器件的制造領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用。在電子器件的制造過程中，需要進(jìn)行多層薄膜與特殊材料的沉積和加工，精確的膜厚度測量對于保證器件性能和可靠性至關(guān)重要。膜厚測量儀可以對薄膜進(jìn)行高精度的測量和控制，提高了晶圓和芯片的制備效率。2.材料科學(xué)研究在材料科學(xué)研究領(lǐng)域中也得到了廣泛的應(yīng)用。材料的薄膜厚度是材料性能的一個(gè)重要因素，膜厚測量儀是研...
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