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光學(xué)部件

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相位偏折測(cè)量系統(tǒng)
相位偏折測(cè)量系統(tǒng)相位偏折術(shù)或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測(cè)量技術(shù),絕對(duì)檢測(cè)精度可達(dá)10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等面型的高精度檢測(cè)。具有測(cè)量角度大、非接觸、精度高、速度快等特點(diǎn)。

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光譜透過(guò)率測(cè)量系統(tǒng)
光譜透過(guò)率測(cè)量系統(tǒng):AUT GPS-200推出的?套光譜透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)光譜儀與均勻光源組成透過(guò)率測(cè)量系統(tǒng)，幫助客戶對(duì)光學(xué)玻璃、濾光?、膜層、顯示屏（OLED、LCD等）、AR/VR透鏡、油墨、染料、?質(zhì)等進(jìn)?光譜透過(guò)率的測(cè)量。

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光學(xué)視角檢測(cè)儀—顯示測(cè)量
光學(xué)視角檢測(cè)儀—顯示測(cè)量，ELDIM制造基于傅里葉光學(xué)的光學(xué)視角檢測(cè)儀已經(jīng)超過(guò)25年了。基于*的光學(xué)設(shè)計(jì)，可以控制系統(tǒng)的角孔徑與測(cè)量光斑大小相獨(dú)立，可以實(shí)現(xiàn)非常高的光收集效率，超大掠射角(88°)的測(cè)量也具有很高的精度。

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Mprobe 20 薄膜測(cè)量系統(tǒng) （單點(diǎn)測(cè)量）
Mprobe 20 薄膜測(cè)量系統(tǒng) （單點(diǎn)測(cè)量）是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)，只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)薄膜厚度和折射率測(cè)量，測(cè)量厚度范圍1nm-1mm.

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光腔衰蕩光譜測(cè)量系統(tǒng)
光腔衰蕩光譜方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一種基于高精細(xì)度諧振腔的高靈敏度探測(cè)技術(shù)，主要用于精確測(cè)量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率，測(cè)量精度可達(dá)百萬(wàn)分之一量級(jí)！光腔衰蕩光譜測(cè)量系統(tǒng)

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