Nanobase50萬(wàn)RMB！高速大面積共聚焦拉曼成像系統(tǒng)采用透射式光路設(shè)計(jì)，提高了產(chǎn)品的靈敏度和穩(wěn)定性。*的振鏡掃描技術(shù)能夠在臺(tái)面固定不動(dòng)的情況下實(shí)現(xiàn)快速二維成像掃描。該技術(shù)在聯(lián)用光電流成像系統(tǒng)載臺(tái)時(shí)優(yōu)勢(shì)明顯，并且可擴(kuò)展增加熒光壽命檢測(cè)系統(tǒng)。

XperRam C series是基礎(chǔ)款，采用一個(gè)532nm激光器激發(fā)，集成了奧林巴斯顯微鏡，可以測(cè)量樣品的Raman/PL的光譜信號(hào)和mapping（Image）圖像。光譜信號(hào)強(qiáng)，掃描速度快，。

50萬(wàn)RMB！高速大面積共聚焦拉曼成像系統(tǒng)

系統(tǒng)光路

拉曼成像mapping

                                     (a)     MoS2 sample microscope image                 (b)50x50µm size 0.3µm step Intensity  image

                                       (c)     30x30µm size 0.1µm step Intensity image    (d)30x30µm size 0.1µm step Frequency image

產(chǎn)品特點(diǎn)

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• 具有優(yōu)異的掃描分辨率和重復(fù)性

（激光掃描分辨率< 0.02 um & 重復(fù)性< 0.1 μm）

• 體相全息光柵光譜儀（光透過率>90%,比反射式光柵高30%,信號(hào)傳輸效率更高）

• 具有Raman/PL等多種測(cè)量模式,可擴(kuò)展為光電流成像功能

• 結(jié)構(gòu)緊湊,模塊化設(shè)計(jì)

• 掃描速度快,掃描范圍大200µm x 200µm范圍內(nèi)高速成像 & 2D Mapping

應(yīng)用領(lǐng)域

石墨烯，二維材料，生物樣本，半導(dǎo)體工業(yè)，碳納米管，碳材料，太陽(yáng)能電池，儲(chǔ)能材料，納米纖維分布，探測(cè)器光電性能檢測(cè)，晶圓體分析，制藥分析，納米材料檢測(cè)，生物細(xì)胞成像，微塑料檢測(cè)，金剛石微粉檢測(cè)。

基本參數(shù)

使用Nanobase XperRam Compact系列拉曼成像光譜儀發(fā)表的部分文獻(xiàn)：

1. Ising-Type Magnetic Ordering in Atomically Thin FePS3gnetic Ordering in Atomically Thin FePS3
影響因子： 12.08 期刊名稱： NANO Letters（2016） ， 作者單位： 首爾國(guó)立大學(xué)物理與天文學(xué)系， 通訊作者： Hyeonsik Cheong
2. Electrically conductive cement mortar: Incorporating rice husk-derived high-surface-area graphene
期刊名稱： Construction and Building Materials（2016） ， 作者單位： 全南國(guó)立大學(xué)高分子科學(xué)與工程學(xué)院， 通訊作者： Ji Hoon Kim
3. Wafer-Scale van der Waals Heterostructures with Ultraclean Interfaces via the Aid of Viscoelastic Polymer
影響因子： 8.097 期刊名稱： ACS Applied Materials and Interfaces（2018） ， 作者單位： 成均館大學(xué)， 通訊作者： Young Hee Lee